2011年10月12日，第八届全国颗粒测试学术会议暨中国粉体工业发展年会在四川成都召开。大会开幕式由中国颗粒学会颗粒测试专业委员会主任、北京粉体技术协会理事长胡荣泽教授主持，会议主要对颗粒测试的研究成果、颗粒测试设备发展的动态进行了深入的讨论。

欧美克研发部系统工程师陈进博士做了题为“激光粒度仪测量窗口全反射现象对粒度测量的影响”学术报告，报告阐述了激光粒度仪测量窗口的全反射对粒度测量结果的影响。结论是：在颗粒测试时，受全反射影响的粒度范围在0.1~1.0微米之间。而在仪器光路的设计阶段如能采取措施减少或消除全反射现象的影响，则仪器在上述范围的测量精度可显著改善。这一理论，引发了会议现场专家、学者的兴趣，争相咨询该理论在实际应用过程中的技术性问题。陈博士都一一悉心回答。深入的理论研究和积极学术交流一定会给欧美克仪器的发展带来更深刻的影响。

另外，在同期举办的的中国粉体工业发展年会上，欧美克激光粒度仪易赛20获得由中国粉体网和北京粉体技术协会共同颁发的“2011-2012年度产品”奖，这是该产品问世以来第5次获得全国性媒体或者政府机构授予的奖励。

颗粒测试会议现场

欧美克公司陈进博士做学术报告